Wiki Drift Audit — 2026-05-01

自动生成于 2026-05-01 04:45 by scripts/audit.py 每周一 BJT 09:00 由 .github/workflows/audit.yml 触发


概览

检查项数量状态
陈旧页面(Updated > 90 天)0🟢
损坏的 cross-reference 链接0🟢
孤立页面(未被引用)2🔴
SRS 逾期(> 7 天)80🔴
健康检查失败页面4🔴
Phase-1 未深 ingest 页面15🔴
引用覆盖不足(< 2 源)79🔴

总体状态:🟡 180 个问题待处理


1. 陈旧页面

🟢 无陈旧页面——所有页面在近 90 天内有更新。


2. 损坏的 cross-reference 链接

🟢 无损坏链接——所有 topic-xxx.md 引用都指向存在的文件。


3. 孤立页面

以下页面没有被任何其他文档引用,可能是遗漏或应该删除:

  • topic-infineon-2000v-coolsic-module.md
  • topic-smt-sandwich-process.md

4. SRS 逾期题目

以下题目逾期超过 7 天未复习(可能是用户没跑 daily 或者答题没反馈):

ID页面问题(截断)逾期天数Box
0MOSFET 技术功率 MOSFET 设计的核心矛盾是什么?121
1MOSFET 技术Miller 平台的物理本质是什么?121
2MOSFET 技术L_s(源极寄生电感)为什么是双刃剑?121
3MOSFET 技术Spirito 效应是什么?为什么 MOSFET 线性应用比导通区更危险?121
4MOSFET 技术如何从手册 E_on/E_off 外推到实际工况?121
5栅极驱动(Gate Driver)栅极驱动设计的三个核心矛盾是什么?121
6栅极驱动(Gate Driver为什么 SiC MOSFET 必须用 −5V 关断 + 有源 Miller 箝位?121
7栅极驱动(Gate Driver)数字隔离器为什么比光耦快 30~50 倍?121
8栅极驱动(Gate Driver)DESAT 保护的 blanking time 为什么对 SiC 特别难设计?121
9栅极驱动(Gate Driver)三段式驱动为什么能兼顾速度和 EMI121
10SiC 器件(Silicon Carbide Devices)Baliga 品质因数为什么让 SiC 比 Si 好 3000 倍?121
11SiC 器件(Silicon Carbide Devices)SiC MOSFET 的沟道迁移率为什么只有体迁移率的 1~3%?121
12SiC 器件(Silicon Carbide Devices)SiC 体二极管 BPD 退化的物理机制是什么?121
13SiC 器件(Silicon Carbide Devices)SiC 短路耐量(SCWT)为什么比 IGBT 短得多?121
14SiC 器件(Silicon Carbide Devices)测试 SiC 开关波形需要什么特殊硬件?121
15IGBT 技术IGBT 的核心矛盾是什么?121
16IGBT 技术电流拖尾占 E_off 多少?为什么 IGBT 频率上限 ~30 kHz?121
17IGBT 技术FS-IGBT 相比 PT 和 NPT 好在哪?121
18IGBT 技术FWD 的 E_rr 占三相逆变器损耗多少?为什么是 SiC SBD 替换的动机?121
19IGBT 技术混合开关(Si IGBT + SiC MOSFET)如何分工?121
......另有 60 条未列出

5. 健康检查

以下页面存在健康问题:

topic-current-sensing-safety.md

  • [X](X.md) wiki-link in body (not rendered on GitHub)

topic-position-sensing-safety.md

  • [X](X.md) wiki-link in body (not rendered on GitHub)

topic-temperature-sensing-safety.md

  • [X](X.md) wiki-link in body (not rendered on GitHub)

topic-voltage-sensing-safety.md

  • [X](X.md) wiki-link in body (not rendered on GitHub)

5. Phase-1 未深 ingest 页面

以下页面 frontmatter 仍挂 sources: Phase 1 批量 INGEST,建议按上下文 trigger source pipeline 深度 ingest:


6. 引用覆盖不足(< 2 条 (源:...)

以下页面缺少 source 引用锚点,考虑加深 ingest:

页面引用数
8D 问题解决方法(Eight Disciplines)0
ADC 与混合信号设计0
AEC-Q 车规认证0
Inverter ASIL D 端到端实现案例(Torque Safety + No Thermal Incident)0
ASIL 分解(ASIL Decomposition)0
Automotive SPICE(ASPICE)— 汽车软件流程评估0
汽车电子(Automotive Electronics)0
汽车微控制器(Automotive MCU)0
汽车网络(CAN-FD / CAN-XL / Automotive Ethernet / TSN / SOME-IP)0
辅助电源变压器设计(Auxiliary Supply Transformer)0
Automotive Auxiliary Power Supply DC-DC Converters0
基础元件工程选型专题(电阻 / 电容 / 二极管 / 三极管 / 信号 MOS / 隔离)0
BMS 功能安全(Battery Management System Safety)0
CAN / CAN FD / LIN 总线(Automotive Bus Protocols)0
AUTOSAR E2E + SecOC 通信安全(CAN E2E and SecOC)0
电路仿真工具(Circuit Simulation)0
比较器与信号调理(Comparator & Signal Conditioning)0
冷却系统设计 — 液冷 / 油冷 / TIM / 微通道0
三相电流采样的功能安全诊断(Current Sensing Diagnostics)0
电流传感器(Current Sensing)0
DC-Link 直流母线电容设计0
DFA / FMEDA / FTA — 功能安全三种核心分析方法0
DV 与 PV(Design / Production Validation)0
整车 E/E 架构(Electrical/Electronic Architecture)0
EMI 滤波器设计 — CM / DM 滤波 + π-CLC 拓扑0
电动汽车标准详解(EV Regulations & Standards)0
失效模式综合速查表(FMEA Quick Reference)0
FMEA 方法论(DFMEA / PFMEA / FMEDA)0
FPGA 与数字设计0
功能安全芯片选型考量0

建议行动

  • 决定 2 个孤立页面是否需要删除或加入 index.md
  • 运行 review 处理 80 条 SRS 逾期
  • 紧急:修复 4 个页面的健康问题
  • 触发 source pipeline 对 15 个 Phase-1 页深度 ingest
  • 给 79 个低引用页补 source 引用