本质与导读
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- 主线/功能安全
- 层/L5 aliases:
- FMEDA FI 映射矩阵
- claimed DC vs measured DC
- DC 验证矩阵
- fault injection traceability
- 实测 DC 回填
- FI-FMEDA 闭环 created: 2026-07-08 updated: 2026-07-08 type: concept status: expert description: "FMEDA 每行的 claimed DC 只是假设,FI 实测 DC 才是 evidence——本页给出行级映射矩阵协议:claimed DC 怎么映射到注入用例、实测 DC 怎么回填级联重算 SPFM/LFM/PMHF、最终怎么挂 GSN Sn evidence。" confidence: high source_quality: primary updated: 2026-07-10 sources: "ISO 26262-5:2018 §8 + Annex C/D / ISO 26262-11:2018 Annex C / ISO 26262-9:2018 / GSN Community Standard v3 / 站内 SSOT(topic-iso26262-part5-hardware §7 + topic-dfa-fmeda-fta §7.2 + topic-diagnostic-coverage-categories §5 + topic-fault-injection-examples §9-10)" prerequisites:
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FMEDA DC 主张与故障注入验证矩阵 — 从 claimed DC 到实测证据的闭环
本质 FMEDA workbook 里每行的 claimed DC 是假设(套 Annex D 或 specific 论证),fault injection 实测 DC 才是evidence——分析只给上界,注入是唯一硬证据。两者之间若缺一份行级映射协议(FMEDA 行 ↔ FI 用例双向 traceability + 实测低于 claimed 时的回填级联重算规则),SPFM 99% 在审计现场就是一句无法回闭的 assumption。本页给出这份协议,并把闭环末端挂到 GSN Sn evidence 上。
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学习目标
读完本页应该能独立完成 claimed DC → 实测 DC → 回填 → GSN 挂接的完整闭环,具体包括:
- 把 FMEDA 任意一行的 claimed DC 映射成一组可执行的 FI 用例(层级选型 + fault model 集 + 用例 ID)
- 按回填规则把实测 DC 级联重算 SPFM / LFM / PMHF,并对 FAIL 行给出合规的处置路径
- 判定某行该用 generic 还是 specific DC,识别必须 specific 的场景(drift 类 / 微秒级 FTTI / EOL)
- 处理不可注入残差(analysis-only + 专家判断记录 + 保守折减),并让整条链通过 TÜV 三问
1. 为什么断链常见 — 审计被打回的四种真实模式
FMEDA 与 fault injection 分属两个集群:前者是量化分析(和 FTA / DFA 一起做),后者是 V&V(和 HIL / 集成测试一起做),通常由两个团队、两套工具、两套编号体系分别执行——断链不是个别项目的疏忽,是组织结构的默认输出。审计现场反复出现四种打回模式:
- 模式 1:行与用例只在人脑里对应。FMEDA workbook 用元件编号,FI 报告用 scenario 编号,两边没有共同键。审计员抽一行 FMEDA 问"这行 DC 的注入证据在哪",5 分钟内拿不出对应用例 = 论证断链,对应 GSN 的 Type 1 argument gap(参见 GSN 写作深度 §4)。
- 模式 2:claimed 全部套 Annex D,FI 只测了 top-3 SM。未被注入覆盖的行是弱证据,评估员惯例砍 20-30%(99% 砍到 80%),连锁后果见 DC 类别页 Gotcha 2:RAM 一行被砍就能把 SPFM 从 99.0% 拖到约 93.6%,直接跌穿 ASIL D。
- 模式 3:FI 报告只有整体"通过",没有每行 DC 分摊。ISO 26262-5 §10 的报告要求包含每个 SM 的 scenario list 与 SPFM/LFM 实测贡献(参见 FI test 深度 §10),只给结论不给分摊的报告无法回填 FMEDA,等于没做。
- 模式 4:GSN Sn 挂了 FMEDA 报告,却没挂 FI 报告。FMEDA 里的 DC 数字此时是一个没有 verification 回闭的隐藏前提——正是 GSN 的 Type 5 unbacked assumption;若 claimed DC 连计算方法(哪个失效率库、哪版 Safety Manual)都没锁,再叠加 Type 4 missing context。
四种模式的共同根因:没有一份"行级映射矩阵"作为两个集群之间的合同。下面 §2 给出这份合同的最小充分形态。
2. 映射矩阵协议 — FMEDA 行到 FI 用例的 per-row 契约
映射矩阵的原则是一行 FMEDA = 一组 FI 用例 = 一条可回填的实测 DC,矩阵本身可以就是 FMEDA workbook 追加的几列(不必另建文档,另建反而制造第二个失同步源)。
2.1 矩阵列定义
每行在 DC 类别页 §9.4 的标准 FMEDA 字段(元件 / 失效模式 / / SM / / / Evidence)之上,追加以下验证列:
| 列 | 内容与填写规则 | 上游 / 下游 |
|---|---|---|
| claim 依据 | generic(Annex D 表号)或 specific(论证文档 ID),判定走 §3 | 上游:Part 5 §5.1 |
| FI 层级 | pre-silicon RTL / silicon BIST / HW pin-level / HIL / SW SFI,按失效模式物理可达性选 | 上游:FI 方法页 §3-4 |
| fault model 集 | 该行失效模式分布(FMD)对应的注入模型清单 + 各自权重 | 上游:该行 FMEA 粒度失效模式 |
| FI 用例 ID | 按 §2.2 约定编号,一行至少一个用例组 | 下游:FI 报告 scenario list |
| trials / 检出 / 置信 | 注入次数、检出数、置信区间档位 | 上游:FI 实例页 §9 采样表 |
| 实测 DC | λ 加权折算后的行级实测值(§2.3),分 / 两列 | 下游:回填(§2.4) |
| 状态 | PASS(点估计实测 ≥ claimed;若按 §2.4 保守口径回填则以置信下限为准)/ 回填重算 / analysis-only(§4) | 下游:FMEDA 版本 + GSN delta |
三行实例把三种状态各走一遍(平台与数字沿用 Part 5 §7 worked design 与安全机制目录 §11;实测列为示意):
| FMEDA 行 | SM(claim 依据) | claimed | FI 层级 + 用例组 | 实测(示意) | 状态 |
|---|---|---|---|---|---|
| TC397 lockstep 核心失效 | Lockstep(specific,厂商 SM 附 FI 报告) | 99% | SW SFI(JTAG)+ pre-silicon 报告引用;FI-SG1-MCU-LSTP-* | 99.6%(7000 trials) | PASS,有 margin |
| TLF35584 VDD 监控失效 | 外部窗口比较器(specific,自证) | 99% | HW pin-level + HIL;FI-SG1-TLF-VMON-* | 97.0%(1000 trials) | 回填重算 → §5 |
| SCT3080AL 短路失效 | DESAT + 过流硬件比较器(specific) | 90% | HW pin-level(DESAT pin 注 SC);FI-SG1-SIC-SC-* | 91.2%(500 trials) | PASS;drift 类残差走 §4 |
2.2 用例 ID 约定与双向 traceability
ID 的唯一目的就是让审计员从任一端出发都能在 5 分钟内走到另一端,所以键里必须同时含 SG 与 FMEDA 行两个坐标。推荐约定:
FI-<SG id>-<FMEDA 行 id>-<fault model>-<序号>
例:FI-SG1-TLF-VMON-DRIFT-003
= SG-1 / TLF35584 电压监控行 / 慢漂类注入 / 第 3 例
双向的含义与 GSN 页 §8 的 work product 追溯完全同构:FMEDA 行的"FI 用例 ID"列指向 FI 报告;FI 报告每个 scenario 的 header 反向登记 FMEDA 行 ID(报告模板见 FI 实例页 §10)。审计员两个惯用抽查方向——从 FMEDA 行正查用例、从 FI 报告反查这条 scenario 到底支撑哪行 claim——都必须一步到达。
2.3 λ 加权折算 — campaign 检出率不能直接当行级 DC
两个集群对"DC"的算法不同,这是回填前最容易被忽略的坑。FMEDA 侧的 DC 是失效率加权的(,见 DC 类别页 §1);FI 侧的原始检出率是注入点计数的(检出注入数 / 总注入数,见 FI 方法页 §1.1)。注入点通常按可达性均匀采样,与失效模式的 λ 分布并不一致——直接把 campaign 检出率填进 FMEDA,方向不定地高估或低估。正确折算是按该行 FMD 把各 fault model 的检出率加权:
其中 遍历该行的 fault model(stuck-at / drift / SEU / …),权重即各模式在该行 中的份额。这正是 FIT/FMEDA 计算页 §6.3 "fault distribution 决定 DC 上限"的验证侧镜像:一个只覆盖 SBSC 的 SM 即使对 SBSC 实测 100%,当该元件 30% SBSC / 70% FMC 时,行级 DC 上限仍是 30%——注入集若只注 SBSC,原始检出率 100% 折算后只剩 30%。工程捷径是在 campaign 设计时就按 λ 份额分配注入配额,让检出率天然等于加权值。
2.4 回填规则 — 实测低于 claimed 时的级联重算
回填不是改一个格子,而是一次受控的 FMEDA 重算 + 变更管理事件。规则分四步:
- 替换该行 DC: 列保留(留审计痕迹),生效值改为实测值,重算该行残差:
- 级联重算三指标,一个都不能省:SPFM 分子加上新增残差;LFM 的分子和分母同时变(分母 随 上升而缩小,LFM 双向受压);PMHF 加上 ——latent 项带 系数但基数大,常是三者中最先超标的(公式与目标值见 Part 5 页 §3-4)。
- 按重算结果分流:三指标仍全过 → 状态 PASS、margin 更新;任一 FAIL → 该行进入处置:补强 SM 后复测(不是复算)、扩注入集查清漏检根因、或架构级变更(冗余化把 SPF 升为 MPF)。禁止的处置是"差一点在测量误差内"——误差该走置信区间档位(§4),不是口头豁免。
- 落变更管理:FMEDA 版本号 +1,GSN 受影响子树做 delta 更新(Sn 换新报告 ID),不允许只改 workbook 不动 safety case。
反方向同样有纪律:实测高于 claimed 时不上调 claimed。单次 campaign 的置信区间撑不起更高的 claim(99% ± 1% 置信要 ~16641 trials,见 FI 实例页 §9),正确姿势是保留 claimed、把差值记为设计 margin。
3. generic vs specific DC 判定树 — 何时必须 specific
判定的出发点是 Part 5 页 §5.1 的定义:Annex D 的 DC 是 generic typical,项目里要算 specific DC——把 timing(DTI + 反应时间 ≤ FTTI)、implementation(具体算法实测覆盖)、system-level masking 三个修正全部算进去。行级判定按下面的顺序走:
- 该行 SM 的诊断周期能塞进 FTTI 吗? 不能(如 ECC 读周期 > FTTI)→ generic 值作废,specific 按时序预算重估,可能从 99% 退到 60%;微秒级 FTTI(SiC SCWT 2-3 μs)直接排除一切周期性诊断,只剩连续硬件监测(推导见 安全机制目录 §10)。
- 该行的失效模式分布里有 Annex D 没建模的模式吗? 有(典型是 drift / 老化类)→ 必须 specific。SiC gate oxide 的 BTI 致 VTH 漂移就是标志性场景:EOL 等效失效率较 BOL 升 2-3 倍、DESAT 裕量随漂移收窄(见安全机制目录 §13 C2 与 DC 类别页 Corner 2),generic 表对这类模式给不出可辩护的数。
- 上层有冗余 masking 或共因吗? 有 → specific 要计入(lockstep 对共因 latent 是盲区,ASIL 分解后 DC 须逐通道重新论证)。
- 以上都否 → 可以 generic 起步,但记住它在证据强度上是弱证据:进 FMEDA 可以,进 safety case 之前仍要 FI 补强,否则按 §1 模式 2 被砍。
一句话版本:generic 是"填表起点",specific 是"claim 门槛",FI 实测是"evidence 门槛"——三级逐级收紧,映射矩阵管的是后两级之间的通道。
4. 不可注入项处理 — analysis-only 残差的合规写法
任何真实 campaign 都有物理上注不进去的部分:die 内部 bridging、封装机械失效、隔离 barrier 退化、真实 15 年老化漂移(加速试验只能近似)。假装它们不存在是审计雷区,合规处理是三件套:
- 显式标记 analysis-only:矩阵状态列单列一类,登记"为何不可注入"(物理不可达 / 破坏性 / 加速等效性不足),并给出替代论证(FMEDA 解析推导、厂商可靠性报告、相似器件 field return)。
- 专家判断记录化:替代论证依赖工程判断时,判断本身变成 work product——判断人、资质、rationale、日期、评审签字,缺一进 GSN 就是无回闭的 assumption(Type 5,修法见 GSN 页 §4.5):要么挂 verification Sn,要么显式进 Residual Risk disclosure。
- 保守折减:analysis-only 部分的 DC 不允许按 claimed 满额入账。工程惯例向下取一档(99% 记 90%、90% 记 60%,档位边界见 DC 类别页 §2),或直接采用评估机构砍值口径(-20~30%)自证保守;折减后重算三指标仍过,论证才稳。
统计残差同理:campaign 是抽样,实测 DC 是带置信区间的估计量。ASIL D 关键 SM 至少 1000 trials、95% ± 2% 要 ~2401、99% ± 1% 要 ~16641(FI 实例页 §9)——回填时用置信下限而非点估计,是同一保守原则在统计维度的投影。
5. Worked example — TLF35584 电压监控行的完整闭环
用全站参考平台(TC397 + TLF35584 + 1EDI3035AS + SCT3080AL,SSOT 数字:SPFM 99.24% / LFM 92.1% / PMHF 4.34 FIT / β ≤ 2%,见 DFA/FMEDA/FTA §7.2 与 Part 5 §7)把一行走通:claimed 99% → FI 集设计 → 假设实测 97% → 回填重算 → 处置复测 → GSN 挂接。
5.1 行基线(claimed)
TLF35584 SBC 行的量化基线全部来自 Part 5 §7.1-7.2:总失效率 FIT、safe fault FIT,危险基数 FIT;SM 为"外部独立 VDD 窗口比较器 + Q&A WD",claimed (specific 论证:比较器连续监测,检测时间近 0,FTTI 预算轻松满足),据此 FIT,平台 RF 合计 0.700 FIT,SPFM 基线:
5.2 FI 用例集设计
窗口比较器这行的 FMD 拆成四类 fault model,注入配额按 λ 权重分配(§2.3 的设计期捷径),层级选 HW pin-level(可编程电源直接操作 rail)+ HIL(系统反应链):
| 用例组 | fault model | 注入方式 | trials |
|---|---|---|---|
| FI-SG1-TLF-VMON-OV/UV-* | rail 阶跃超阈 | 程控电源阶跃 ±20% | 400 |
| FI-SG1-TLF-VMON-STK-* | 比较器输出 stuck | pin force / SW SFI | 250 |
| FI-SG1-TLF-VMON-DRIFT-* | 阈值 / 参考慢漂 | 电源慢速斜坡(mV/s 级) | 250 |
| FI-SG1-TLF-VMON-BND-* | 窗口边界 ± margin | 阈值附近细步进 | 100 |
合计 1000 trials(ASIL D 关键 SM 下限),另跑 10000 次无故障 negative test 验不误报(判定三要素——检出、反应正确、不误报——沿用 FI 方法页 §5.3)。
5.3 假设实测 97% — 回填级联重算
campaign 结果 1000 注入 970 检出,λ 加权后行级 ,漏检集中在 DRIFT 组(慢漂被窗口迟滞吞掉,比较器不翻转)。按 §2.4 回填:
级联到另两个指标:LFM 分母缩至 FIT,(仍过 90%); FIT(仍过 10 FIT)。三指标只倒了 SPFM 一个(98.9% < 99%),但 ASIL D 判定就是 FAIL——这正是回填必须三指标全算的原因:哪个先穿线事先不可知。
5.4 处置与复测
漏检根因是注入集暴露了 claim 论证的缺口——连续比较器对阶跃类失效检测时间近 0 的论证成立,但对慢漂类失效,迟滞窗内的漂移根本不产生翻转事件,claimed 99% 对 DRIFT 模式从未成立过。处置选"补强 SM + 复测"(而非复算):增加周期 ABIST 对比较器阈值做自检扫描,覆盖慢漂模式;扩容 campaign 到 2401 trials 复测,2382 检出 → 点估计 ,95% 置信下限约 98.9%。按 §4 的保守原则用下限回填:
PMHF 回落到 FIT。随后落变更管理:FMEDA 版本 +1(SM 列新增 ABIST,ABIST 自身作为诊断电路按 DC 类别页 Gotcha 3 单列一行),映射矩阵该行状态从"回填重算"改回 PASS,登记点估计与置信下限两个数。
5.5 GSN Sn 挂接
闭环末端按 GSN 页 §2.5 的 Sn 三字段写进 safety case:该行属于随机故障子树的 SPFM sub-goal(如 G2-1-X),其 Solution 从"仅 FMEDA 报告"升级为FMEDA + FI 双 Sn:
Sn2b 同时回闭了"claimed DC 有效"这个 Assumption——没有它,整棵树在 Type 5 defeater 面前不设防。FMEDA 版本变更后两个 Sn 的 ID 同步更新,这就是 §2.4 第 4 步"GSN delta"的具体形态。
6. Gotcha 链 — 7 个映射断裂高发点
映射矩阵的失效模式集中在"两个集群各自都对、接缝处错"。以下 7 条按危险度排列,均来自审计与量产项目的真实 finding 类型:
G1(最高危):注入集缺 drift / 慢漂类 fault model。 只注 stuck-at 与阶跃,检出率 99%+ 好看,但该行 FMD 里的漂移份额从未被验证——λ 加权后真实 DC 远低于表面值。漂移本来就是最难检的模式(FI 实例页 §4 给 ADC plausibility 漂移仅 80%),§5 的 worked example 正是栽在这里。注入集的 fault model 清单必须与该行 FMD 逐项对齐,缺项要么补注入要么走 §4 analysis-only。
G2:EOL / 温度角未重测,BOL 常温 DC 当常数用。 DC 随温度与老化漂移:比较器 150 °C 阈值漂移可把 从 92% 拖到 75%,SiC BTI 漂移侵蚀 DESAT 裕量(DC 类别页 Gotcha 5 / Corner 2)。映射矩阵须登记实测工况;声明全温域 DC 就要给温度角与 EOL 复核数据。
G3:用例与 FMEDA 行无 traceability,campaign 只出总 DC。 "全系统注入 8000 例,整体检出 96%"无法按行分摊,回填无从谈起;审计员抽行即触发 §1 模式 1。每行至少一个用例组,报告按行给分摊,是 FI test 深度 §10 报告结构的硬要求。
G4:实测只做 demo 样本 / 黄金样机 / 单一负载点。 满载与空载响应差异大,HW FI 至少 3 个负载点(10/50/90%,见 FI test 深度 §11);单台精挑样机的 DC 不代表量产分布,矩阵里应登记样本数与工况覆盖。
G5:blanking 窗内注入被错误计入统计。 DESAT 消隐窗 tBLK 内注入的短路事件,SM 按设计就不响应——计成"漏检"假性拉低 DC,计成"检出"更是造假。正确口径:tBLK 内的注入单列为设计性盲窗,不进 DC 分子分母,该盲窗的安全性由 tBLK < SCWT 的时序论证单独覆盖(安全机制目录 §12 G3)。
G6:注入落在 idle / 死代码周期被计为漏检。 lockstep 类 SM 的注入若落在无操作周期,故障不激活、自然无检出,混入统计会系统性低估 DC(FI 实例页 §2)。no-effect 注入要剔除或单列,且剔除规则写进报告——审计员会问"你剔了多少、凭什么"。
G7:实测高于 claimed 就顺手上调 claimed。 点估计 98.5% 不等于可以 claim 98.5%:上调 claim 需要对应置信档位的样本量与变更管理流程(§2.4)。margin 是白捡的,claim 是要背证据的——两者混同等于把统计涨落写进 safety case。
7. 审计问答视角 — TÜV 常问三问与合格回答形态
映射矩阵最终在 confirmation review / I3 现场兑现。三个高频问题,每个都在探测一类断链,合格回答有固定形态:
问 1:"这一行的 99% 是哪来的?"(证据强度问) 合格形态:claim 依据(specific 论证文档 ID)→ FI 用例组 ID → trials / 检出 / 置信档 → 工具 qualification(TCL2/3,FI 方法页 §6.1)一口气报完,矩阵行就是答题卡。不合格形态:"Annex D 写的 99%"——直接触发弱证据砍值。
问 2:"注入集凭什么代表这一行的失效模式分布?"(代表性问) 合格形态:出示 fault model ↔ FMD 对齐表 + λ 加权说明(§2.3)+ 不可注入残差清单与保守折减(§4)。不合格形态:"我们注了 5000 个 stuck-at"——数量掩盖不了模式缺项,审计员追一句 drift 就破。
问 3:"实测低于 claimed 的行,你们做了什么?"(闭环问) 合格形态:回填记录 + 三指标级联重算 + 处置决策(复测 / 补 SM / 架构变更)+ FMEDA 版本与 GSN delta 的变更痕迹(§2.4 / §5.4)。不合格形态:"差 2% 在误差范围内"——误差要走置信区间,不走口头;这句话往往直接把审计从这一行扩大到整本 workbook。
三问背后是同一逻辑:审计员不验算你的 DC,他验的是你的组织有没有一条从 claim 到 evidence 再回到 claim 的受控通路。映射矩阵就是这条通路的存在证明。
8. 工作极限 — 三个项目结构性压力角
映射矩阵协议在以下三个场景最容易失效,工程对策不同于常规执行态。
C1(变更频繁角):ECR 高频期 FMEDA 与 FI 双版本撕裂。 开发后期 ECR 触发 FMEDA 条目新增或 DC 重估时,映射矩阵面临双版本撕裂风险——FMEDA workbook 已升版,对应 FI 用例组还挂着旧行 ID,或者已跑 campaign 的结果对新条目无法复用。定量后果:如果 FMEDA 中仅有 10% 的行发生变更而 campaign 已完成,重跑这 10% 需要补 100-500 trials/条 × N 新行;若安全计划中没有为 ECR 预留 FI 复测窗口(通常 8-12 周),就会在集成 V 阶段被迫豁免——这正是 §1 模式 2 的工程根因。对策:① 在 FMEDA workbook 里为映射矩阵列设锁定标识(matrix_frozen: yes),FMEDA 变更触发矩阵 delta 评估(影响哪些行需要补跑);② 安全计划在 SW freeze 前预留一个 4-6 周的 campaign 缓冲;③ 只对 SPFM 敏感行(DC 变化 ≥ 5% 会导致 SPFM 变化 ≥ 0.5% 的行)强制重跑,其余 delta 走 analysis-only + 保守折减兜底(§4)。
C2(SEooC 供应商证据依赖角):外购器件 Safety Manual 版本静默更新打穿 claimed DC。 TLF35584、1EDI3035AS 等 SEooC 提供的 Safety Manual 包含器件内部 SM 的 DC 声明,集成商 FMEDA 直接引用。风险在于供应商升版 Manual(如从 Rev 2.0 升到 Rev 2.1)可能悄悄降低 DC claim(加了新失效模式、调整了测试条件、缩小了 AoU 边界),但集成商的映射矩阵仍挂旧 Manual ID。审计发现时,该行不仅要重算,还要追问"你的 FI 证据能覆盖新版 Manual 新增的失效模式吗"。以 §5 的 TLF35584 VMON 行为例:若 Manual 升版后把 DRIFT 类 DC 从 claim 99% 改为 90%,§5.3 回填的起点就从 97% 变成 90% 比较基准,原来 PASS 的行可能直接 FAIL。对策:① 映射矩阵"claim 依据"列显式锁定 Safety Manual 版本号与文档 ID(如 TLF35584-SafetyManual-Rev2.0-Doc#xxx);② 建立 SEooC Safety Manual 变更订阅机制,升版时触发 FMEDA delta 评估(类似 §4 compliance audit 周期);③ 核心 SM 行不依赖 Manual 独家提供,集成商自建 FI campaign 独立验证,避免单点证据链。
C3(大规模 FMEDA 经济性角):500+ 行 FMEDA 的 campaign 样本量累积超出可行范围。 ASIL D 关键 SM 行按 §4 的 99% ± 1% 置信标准需要约 16641 trials/行,如果 FMEDA 有 50 个 ASIL D 关键 SM 行,理论总量 832050 trials——远超任何量产项目的 V&V 预算。现实可行边界是每平台 5000-20000 trials 总量(参考 FI 测试深度 §11 的工业项目规模)。对策是分层采样而非全量覆盖:① 按 DC 灵敏度 × λ 权重对所有行排序,识别 SPFM 敏感集(通常是总行数的 15-20%);② 敏感集走 §2.3 λ 加权折算的精量 campaign(≥ 1000 trials/组);③ 其余行按 SM 类型分族,每族抽代表行跑 campaign,族内其余行引用代表行证据 + 技术等价论证(差异点 ≤ 3 条,每条有 rationale);④ 这份"分层采样 + 等价论证"策略本身要进 Safety Plan 并通过 confirmation review,不是项目内部"我们觉得够了"的决策——等价论证被 TÜV I3 否定就是整族覆盖无效。
核心要点
- claimed DC 是假设、实测 DC 是 evidence:分析只给上界,fault injection 是 specific DC 的唯一硬证据;两者之间需要行级映射协议,否则 SPFM 99% 在审计现场不可辩护
- 断链是组织结构的默认输出(FMEDA 与 FI 分属两个团队两套编号),四种打回模式的共同修法 = 把映射矩阵做成 FMEDA workbook 的追加列
- 映射矩阵 per-row 契约:claim 依据(generic/specific)+ FI 层级 + fault model 集 + 用例 ID(FI-SG-行-模型-序号)+ trials/置信 + 实测 DC + 状态;行 ↔ 用例双向 traceability,任一方向 5 分钟可达
- campaign 原始检出率 ≠ 行级 DC:必须按该行 FMD 做 λ 加权折算——fault distribution 决定 DC 上限这条规律在验证侧同样成立
- 回填规则四步:替换生效 DC → 级联重算 SPFM/LFM/PMHF(LFM 分子分母同动,PMHF 常最先穿线)→ FAIL 分流(复测/补 SM/架构变更,禁止口头豁免)→ FMEDA 版本 + GSN delta;实测高于 claimed 不上调 claim
- generic 是填表起点、specific 是 claim 门槛、FI 实测是 evidence 门槛;drift 类失效(SiC BTI)、微秒级 FTTI、ASIL 分解后通道必须 specific
- 不可注入项三件套:analysis-only 显式标记 + 专家判断记录化(否则是 Type 5 defeater)+ 保守折减(降档或 -20~30%);统计残差用置信下限回填
- worked example 一行闭环:TLF35584 claimed 99% → 1000 trials 实测 97% → SPFM 99.24% 跌到 98.9% FAIL → 补 ABIST 复测 99.2%(按置信下限 98.9% 回填)→ SPFM 99.23% PASS → GSN 挂 FMEDA + FI 双 Sn 回闭 assumption
- TÜV 三问(证据强度 / 代表性 / 闭环)探测的是同一件事:从 claim 到 evidence 再回到 claim 的受控通路是否存在
缩写表
只列本页用到的专业缩写,行业入门通识(ADC / MCU / SBC 等)不列:
| 缩写 | 全称 | 中文 / 备注 |
|---|---|---|
| FMEDA | Failure Modes, Effects and Diagnostic Analysis | 含诊断覆盖的失效模式分析 |
| FI | Fault Injection | 故障注入 |
| SM | Safety Mechanism | 安全机制 |
| SPFM / LFM | Single-Point / Latent Fault Metric | ASIL D 目标 ≥ 99% / ≥ 90% |
| PMHF | Probabilistic Metric for Hardware Failures | ASIL D 目标 ≤ 10 FIT |
| FTTI | Fault Tolerant Time Interval | 容错时间间隔 |
| DTI | Diagnostic Test Interval | 诊断测试间隔 |
| FMD | Failure Mode Distribution | 失效模式分布 |
| SPF / RF / MPF | Single-Point / Residual / Multiple-Point Fault | 故障分类三件套 |
| GSN / Sn | Goal Structuring Notation / Solution | Safety Case 论证记法 / evidence 叶节点 |
| SFI | Software Fault Injection | 软件故障注入 |
| HIL | Hardware in the Loop | 硬件在环 |
| SEU | Single Event Upset | 单粒子翻转 |
| SBSC / FMC | Single Bit Stuck-at / Functional Multi-Coverage | ISO 26262-11 fault model 两类 |
| DESAT | Desaturation detection | 退饱和短路检测 |
| SCWT | Short Circuit Withstand Time | SiC 仅 2-3 μs |
| BTI | Bias Temperature Instability | 栅氧老化致阈值漂移 |
| BOL / EOL | Begin / End of Life | 寿命起点 / 终点 |
| ABIST / STL | Analog BIST / Software Test Library | 周期自检类 SM |
| TCL | Tool Confidence Level | FI 工具 qualification 等级 |
| I3 | Independent Safety Assessment | TÜV / SGS 独立评审 |
Cross-references
- ← 索引
- FIT / FMEDA 工程化计算 — DC 定义、fault distribution 决定 DC 上限(§6.3)、"无 FI 证据不得 claim 100%"(§9.3)
- ISO 26262-5 硬件层细化 — 三档 DC(§2.1)、generic vs specific(§5.1)、worked 平台数字(§7,本页 §5 的 SSOT)
- Fault Injection 测试方法 — "分析给上界、注入是唯一硬证据"立场、campaign 5 步、工具 TCL
- Fault Injection Test 深度 — 5 类 FI、报告结构与 SPFM/LFM 实测贡献(§10)、负载点陷阱
- Fault Injection 实战案例 — 8 类 SM campaign 模板、采样置信度表(§9)、报告模板(§10)
- Diagnostic Coverage 类别 — 4 档阈值、弱证据砍 20-30%(§5)、DC 非常数(Gotcha 5 / Corner 2)
- DFA / FMEDA / FTA — 平台 SSOT 数字(§7.2:β ≤ 2% / SPFM 99.24%)、三分析互补
- Safety Case GSN 写作深度 — Sn 三字段写法、Type 4/5 defeater 与修法、双向追溯
- 安全机制目录 — 器件级 DC 量级(§11)、blanking vs SCWT(§12 G3)、EOL BTI corner(§13 C2)
- BMS 功能安全 — 按 SG 切片的 FMEDA 三版演进,映射矩阵按 SG 建行的应用场景
- ISO 26262-11 半导体细化 — 数字 IC fault injection 强制要求(Annex C)